Sekundärionen-Massenspektrometrie

Verschiedenste Substrate (Hartstoffe, Polymere, Self Assembled Monolayers, Solarzellen, Membranen, SurMOFs und SurGels), die aus unterschiedlichsten Herstellungs- und Strukturierungsprozessen stammen, können mit der Sekundärionen-Massenspektrometrie (TOF.SIMS5 Spektrometer von ION-TOF, Münster) untersucht werden.
Damit kann die elementare und molekulare Zusammensetzung einer Probenoberfläche erfasst werden (statische SIMS). Dazu wird die Probe im Ultrahochvakuum mit schnellen Primärionen beschossen um Sekundärionen herauszuschlagen. Mittels eines Flugzeitanalysators wird ein Massenspektrum des Probenmaterials gewonnen. Diese Massenspektrometrie kann bildgebend eingesetzt werden und erreicht Lateralauflösungen zwischen 300-3000 nm. Bei der dynamischen SIMS wird die Probe durch den Ionenbeschuss erodiert um Element- oder Molekül-Informationen als Funktion der Tiefe zu erfassen.

Diese Analytik wird über die Karlsruhe Nano Micro Facility  für Kooperationsprojekte angeboten.

Ich nutze das elektronische Laborjournal Chemotion und veröffentliche Daten gemäß den FAIR Prinzipien (findable, accessible, interoperable, reusable) in Repositorien wie Chemotion und Radar4KIT.