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- Rasterkraftmikroskop (Atomic force microscope - AFM) für Untersuchungen an Luft und in Flüssigkeiten Digital Instruments NanoScope MultiMode mit NanoScope IIIa Kontrolleinheit)
- Betriebsarten: Contact- und Non-Contact-Modus, Lateralkraft-Modus, Abbildung mit elektrostatischen und magnetostatischen Kraft-Wechselwirkungen
- Scanner für Abbildungsbereiche von 10µm × 10µm (Hochauflösung) und Großfeldscanner für Abbildungsbereiche von 125µm × 125µm
- Video-Mikroskop zur gezielten Positionierung der Spitze auf strukturierten Proben
- Messkopf für den Betrieb als Rastertunnelmikroskop (engl. Scanning tunneling microscope, STM
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